正高级工程师、博士生导师、中科院青年创新促进会会员、中科院关键技术人才。 

　　2002年7月，获北京大学物理学专业理学学士学位；2007年7月，获北京大学凝聚态物理博士学位。博士期间参与研制了全国产化的能得到高质量硅表面原子分辨的超高真空扫描隧道显微镜，应用该设备，结合第一性原理计算对掺硼硅表面进行了系统的研究，解决了一些长期存在争议的科学问题。2007年5月进入中科院苏州纳米所，在测试分析平台扫描探针实验室工作，负责扫描探针相关的测试服务工作；研发基于扫描探针的微纳米尺度光、电、力学综合测试分析设备和相关技术；与研究部合作，开展基于新装备和新方法的应用基础研究。 

　　主要成果： 

　　(1) 主持和参与中科院、基金委和科技部的多项仪器和表征技术研发项目，自主研制基于扫描开尔文探针的深紫外扫描近场光电探针系统，实现深紫外时间分辨光谱与表面光电压谱的同位微区测量，从时间和空间两个维度，以皮秒的时间分辨率和纳米级的空间分辨率对半导体光电材料的表面性质进行表征，从而为微观机制的探索提供有力的武器。 

　　(2) 应用自主研制的设备对宽禁带半导体的表界面纳米尺度输运性质进行了深入探索，实现了单个位错附近少子扩散长度和表面复合速率等载流子动力学性质的定量测量。 

　　(3) 对氮化镓与石墨烯二维材料的界面输运性质进行了系统的研究，从实验和理论上系统阐明了石墨烯浮动费米面的特性对异质结电学输运性质的影响，发展了半导体表面测量二维材料微区迁移率的方法。 

　　(4) 制定了国家标准GB/T 32189-2015 《氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法》，并取得相关实验室认证资格，为产业提供了大量支撑服务。  

　　(1) 基于扫描探针显微镜和超快光谱的微纳米尺度光、电、力学综合测试分析设备和相关技术。 

　　(2) 宽禁带半导体材料的表面光电性质、与石墨烯等纳米材料形成的界面纳尺度光电性质表征。